工作原理

NS-90Z Plus通過動態(tài)光散射技術(shù)分析顆粒布朗運動，計算粒徑分布；同時利用電泳光散射技術(shù)測量顆粒在電場中的遷移速度，結(jié)合Hückel或Smoluchowski理論推導(dǎo)Zeta電位。儀器采用高靈敏度光電探測器與精密溫度控制模塊，確保數(shù)據(jù)穩(wěn)定性，支持自動優(yōu)化測量參數(shù)以適應(yīng)不同樣品特性。

應(yīng)用范圍

該設(shè)備適用于納米材料（如金屬氧化物、聚合物）、生物醫(yī)藥（蛋白質(zhì)、脂質(zhì)體）、化妝品（乳液、納米顆粒）及環(huán)境科學(xué)（膠體、懸浮液）等領(lǐng)域的粒徑與電位分析。其多參數(shù)同步測量能力可滿足從基礎(chǔ)研究到工業(yè)品控的多樣化需求。

產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)

粒徑范圍：0.3nm-10μm（動態(tài)光散射）

Zeta電位范圍：-200mV至+200mV

測量精度：粒徑重復(fù)性≤2%，電位重復(fù)性≤5mV

溫度控制：5℃-90℃（精度±0.1℃）

光源：固態(tài)激光器（波長635nm）

檢測角：90°與15°雙角度可選

產(chǎn)品特點

一體化設(shè)計：同步實現(xiàn)粒徑、電位及分子量測量，提升分析效率。

智能算法：內(nèi)置自適應(yīng)數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，自動識別樣品濃度與信號強(qiáng)度。

用戶友好：全中文界面、向?qū)讲僮髁鞒碳白詣踊逑垂δ?，降低使用門檻。

高穩(wěn)定性：光學(xué)系統(tǒng)與溫度控制模塊經(jīng)嚴(yán)格優(yōu)化，確保長期測量可靠性。

擴(kuò)展性：支持第三方軟件接口與定制化模塊，適配特殊應(yīng)用場景。