工作原理

NS-90 Plus采用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)，激光照射樣品后，散射光信號(hào)被高靈敏度探測(cè)器捕獲，通過(guò)自相關(guān)函數(shù)分析光強(qiáng)波動(dòng)，計(jì)算顆粒的擴(kuò)散系數(shù)并推導(dǎo)粒徑分布。同時(shí)，電泳光散射技術(shù)通過(guò)測(cè)量顆粒在電場(chǎng)中的遷移速度，結(jié)合理論模型得出Zeta電位。儀器配備精密溫度控制模塊（±0.1℃精度）與雙角度檢測(cè)系統(tǒng)（90°與15°），確保數(shù)據(jù)穩(wěn)定性與適應(yīng)性。

應(yīng)用范圍

適用于金屬氧化物、聚合物、脂質(zhì)體、乳液、膠體等納米材料的粒徑與電位分析。在生物醫(yī)藥領(lǐng)域，可表征蛋白質(zhì)、外泌體、疫苗佐劑；在化妝品行業(yè)，用于納米防曬劑、乳液穩(wěn)定性研究；在環(huán)境科學(xué)中，可檢測(cè)水體中的膠體顆粒與懸浮物。

產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)

粒徑范圍：0.3nm-10μm（動(dòng)態(tài)光散射）

Zeta電位范圍：-200mV至+200mV

測(cè)量精度：粒徑重復(fù)性≤2%，電位重復(fù)性≤5mV

溫度控制：5℃-90℃（精度±0.1℃）

光源：固態(tài)激光器（波長(zhǎng)635nm，功率≤5mW）

探測(cè)器：高靈敏度雪崩光電二極管（APD）陣列

產(chǎn)品特點(diǎn)

雙參數(shù)同步測(cè)量：粒徑與Zeta電位一鍵式檢測(cè)，提升分析效率。

智能算法：內(nèi)置自適應(yīng)數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，自動(dòng)優(yōu)化測(cè)量參數(shù)與信號(hào)濾波。

高穩(wěn)定性：光學(xué)系統(tǒng)與溫度控制模塊經(jīng)嚴(yán)格優(yōu)化，支持長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)測(cè)量。

用戶(hù)友好：全中文界面、向?qū)讲僮髁鞒碳白詣?dòng)化清洗功能，降低使用門(mén)檻。

擴(kuò)展性：支持第三方軟件接口與定制化模塊（如分子量測(cè)量），適配特殊應(yīng)用場(chǎng)景。