工作原理

XL80基于激光干涉測量原理，采用氦氖激光器（波長633nm）發(fā)射穩(wěn)定光束，通過分光鏡將光束分為參考光與測量光。測量光經(jīng)被測對象（如機(jī)床導(dǎo)軌、CMM軸）反射后，與參考光在傳感器處產(chǎn)生干涉。設(shè)備通過檢測干涉條紋的變化量，結(jié)合光波波長與相位差，自動計算并顯示位移（如位置誤差、重復(fù)定位精度）、角度（如俯仰、偏擺）或直線度參數(shù)，支持實時數(shù)據(jù)采集與動態(tài)分析。

應(yīng)用范圍

該設(shè)備適用于數(shù)控機(jī)床、三坐標(biāo)測量機(jī)、激光切割機(jī)、3D打印機(jī)等精密設(shè)備的幾何精度檢測與校準(zhǔn)，尤其擅長對直線軸、旋轉(zhuǎn)軸的定位精度、重復(fù)性及反向間隙進(jìn)行量化評估，廣泛服務(wù)于航空航天、汽車制造、模具加工及科研院校的計量實驗室。

產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)

測量范圍：位移0~50m（可選配更長測程），角度±0.1°

分辨率：1nm（位移），0.1μrad（角度）

精度：±0.5ppm（位移），±1%（角度）

激光波長：633nm（氦氖激光器）

環(huán)境補償：內(nèi)置溫度（±0.1℃）、氣壓（±1hPa）傳感器

數(shù)據(jù)輸出：USB/RS232接口，支持Renishaw專用軟件

電源：AC100~240V，50/60Hz

防護(hù)等級：IP40（實驗室環(huán)境）

產(chǎn)品特點

納米級測量精度：位移分辨率達(dá)1nm，角度分辨率0.1μrad，滿足ISO 230-2、ASME B5.54等國際標(biāo)準(zhǔn)要求。

多參數(shù)同步檢測：支持位移、角度、直線度、垂直度等多維度測量，適配復(fù)雜設(shè)備校準(zhǔn)需求。

環(huán)境自適應(yīng)補償：集成溫壓傳感器，自動修正環(huán)境因素對測量的影響，保障數(shù)據(jù)穩(wěn)定性。

便攜與易用性：模塊化設(shè)計，重量≤15kg，支持快速安裝與自動對齊功能，降低操作門檻。

智能數(shù)據(jù)分析：配套專用軟件支持?jǐn)?shù)據(jù)可視化、報告生成及誤差趨勢分析，提升計量效率。