工作原理

BDX-606基于X射線熒光光譜技術(shù)，通過高壓電源驅(qū)動X射線管產(chǎn)生高能X射線，激發(fā)樣品表面原子內(nèi)層電子躍遷，外層電子填補空穴時釋放特征X射線熒光。美國Amptek Si-PIN探測器接收不同能量的熒光信號，經(jīng)多道脈沖分析器處理后，生成能量-強度分布譜圖。軟件通過特征峰能量識別元素種類，結(jié)合標(biāo)準(zhǔn)樣品或理論模型計算元素含量，實現(xiàn)快速無損檢測。

應(yīng)用范圍

該設(shè)備覆蓋RoHS合規(guī)檢測、金屬成分分析、礦石品位測定三大核心領(lǐng)域。在電子行業(yè)，可精準(zhǔn)檢測塑膠制品中鉛、汞、鎘等有害元素；在冶金領(lǐng)域，支持不銹鋼、鋁合金等金屬材料的成分快速篩查；在地質(zhì)勘探中，可分析鉛鋅礦、銅礦等礦石的主次元素含量。此外，設(shè)備兼容粉末、液體、塊狀等多種形態(tài)樣品，滿足工業(yè)廢水重金屬檢測、油品添加劑分析等場景需求。

技術(shù)參數(shù)

元素檢測范圍：鈉（Na）至鈾（U）

檢出限：鉛/鎘/鉻/汞≤2ppm，溴/氯≤50ppm

測試時間：60-300秒可調(diào)

探測器分辨率：149±5eV

樣品腔尺寸：350×300×150mm

電源：AC 220V±10%，50/60Hz

輻射劑量：低于國家標(biāo)準(zhǔn)，獲輻射安全許可證

產(chǎn)品特點

高效精準(zhǔn)：采用數(shù)字多道技術(shù)，計數(shù)率超600KCPS，單次檢測可同步分析20余種元素，重復(fù)性誤差＜1.5%。

安全可靠：三重輻射防護(hù)設(shè)計，包括X光管特殊處理、樣品蓋鉛皮包裹及軟件預(yù)警系統(tǒng)，確保操作人員安全。

智能便捷：支持多語言界面與一鍵式操作，可自動生成PDF/EXCEL報告，兼容Windows 10系統(tǒng)，配備1500萬像素CCD攝像機實時觀察樣品狀態(tài)。

維護(hù)成本低：電制冷探測器無需液氮冷卻，設(shè)備內(nèi)置自動校準(zhǔn)功能，降低耗材與維護(hù)頻次。