全反射X射線熒光光譜儀（TXRF）

品名：全反射X射線熒光光譜儀（TXRF）

產(chǎn)品型號：S4 T-STAR

品牌：Bruker/布魯克

原產(chǎn)地：德國

S4 T-STAR® 是一種多功能工具，用于痕量微量元素分析的高性能全反射X射線光譜儀.用于分析各種樣品類型，包括懸浮液、粉末、納米顆?；虮∧ぁ?br />
制樣簡單，無需消解，而ICP則需要完全溶解的液體樣品。

TXRF 光譜儀 S4 T-STAR® 提供

TXRF 運營成本極低，無需氣體、冷卻介質(zhì)或復(fù)雜的實驗室基礎(chǔ)設(shè)施。

自動校準(zhǔn)功能，基本無需后期維護(hù)

優(yōu)化后的測試系統(tǒng)支持工業(yè)級24h不間斷測試。

Bruker多樣化的樣品托盤和工具為用戶提供了更多選擇，可加快樣品制備速度，降低樣品污染風(fēng)險。

參數(shù)配置：



參考標(biāo)準(zhǔn):

GB/T24578-2024半導(dǎo)體晶片表面金屬沾污的測定 全反射X射線熒光光譜儀

GB/T42360-2023 表面化學(xué)分析 水的全反射X射線熒光光譜儀

GB/T40110-2021 表面化學(xué)分析 全反射X射線熒光光譜儀(TXRF)測定硅片表面元素污染