工作原理

51XA-PC基于偏光顯微鏡原理，利用起偏器產(chǎn)生偏振光，經(jīng)樣品后由檢偏器分析。當(dāng)樣品為各向異性材料（如金屬晶體）時(shí)，偏振光發(fā)生雙折射，形成干涉圖像；明場(chǎng)模式則通過(guò)常規(guī)透射光成像，清晰顯示樣品表面細(xì)節(jié)。設(shè)備支持偏光與明場(chǎng)模式切換，滿足多樣本分析需求。

應(yīng)用范圍

適用于金屬材料組織分析（如晶界、相組成）、礦物鑒定（如雙晶結(jié)構(gòu)）、陶瓷材料缺陷檢測(cè)，以及高分子材料取向研究。廣泛服務(wù)于冶金、地質(zhì)、材料科學(xué)領(lǐng)域的教學(xué)、科研及工業(yè)質(zhì)檢，助力材料性能評(píng)估與工藝優(yōu)化。

產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)

物鏡配置：5×、10×、20×、50×（無(wú)限遠(yuǎn)消色差）

總放大倍數(shù)：50X-1000X

觀察模式：偏光/明場(chǎng)可切換

載物臺(tái)：雙層機(jī)械式（180×160mm，移動(dòng)范圍80×50mm）

光源：鹵鎢燈12V30W（亮度可調(diào)）

濾色片：綠、藍(lán)濾光片（插板式）

聚光鏡：阿貝聚光鏡1.25NA

攝像頭接口：支持500萬(wàn)像素?cái)?shù)字成像

電源：AC 220V/50Hz

產(chǎn)品特點(diǎn)

雙模式成像：偏光觀察雙折射現(xiàn)象，明場(chǎng)顯示表面細(xì)節(jié)，滿足多維度分析需求。

高精度光學(xué)系統(tǒng)：無(wú)限遠(yuǎn)消色差物鏡，消除像差，提升圖像清晰度。

人性化操作：30°鉸鏈?zhǔn)接^察筒、可調(diào)目鏡（屈光度±5D），減少操作疲勞。

耐用設(shè)計(jì)：不銹鋼組件與防腐蝕結(jié)構(gòu)，適應(yīng)實(shí)驗(yàn)室與工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)雙場(chǎng)景。

數(shù)字化擴(kuò)展：支持500萬(wàn)像素?cái)z像頭與圖像分析軟件，實(shí)現(xiàn)定量測(cè)量與數(shù)據(jù)保存。