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> 波長(zhǎng)色散x射線熒光光譜儀
工作原理
AL-BP-9010采用X射線管激發(fā)樣品,高能X射線照射樣品表面,使原子內(nèi)層電子躍遷并釋放特征X射線。波長(zhǎng)色散系統(tǒng)通過(guò)分光晶體(如LiF、PET)將不同波長(zhǎng)的X射線按角度分散,聚焦至正比計(jì)數(shù)器或流氣式探測(cè)器。通過(guò)掃描分光晶體角度,記錄各元素特征X射線的強(qiáng)度,結(jié)合標(biāo)準(zhǔn)曲線與算法,定性與定量分析元素種類及含量(如Na至U),符合GB/T 17359-2012標(biāo)準(zhǔn)要求。
應(yīng)用范圍
該產(chǎn)品適用于冶金行業(yè)檢測(cè)金屬合金成分(如鋼、鋁、銅)及痕量雜質(zhì);地質(zhì)領(lǐng)域分析礦石品位、土壤重金屬(如Pb、Cd、As);環(huán)保行業(yè)監(jiān)測(cè)大氣顆粒物、水體沉積物的污染元素;建材行業(yè)控制水泥、陶瓷的原料成分。其高精度與穩(wěn)定性支持研發(fā)階段的材料篩選與生產(chǎn)線的在線質(zhì)控,是質(zhì)檢機(jī)構(gòu)、高校及工業(yè)企業(yè)的關(guān)鍵分析工具。
產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)
元素檢測(cè)范圍:Na(11)~U(92)
檢測(cè)限:0.1~50ppm(視元素而定)
分辨率:≤0.01nm(分光晶體)
分析時(shí)間:60~600秒(可調(diào))
樣品形態(tài):固體、粉末、液體(需適配樣品杯)
分光晶體:LiF(200)、PET(0.2mm)
X射線管:銠靶(Rh)或銀靶(Ag),功率≤4kW
數(shù)據(jù)輸出:定性譜圖、定量濃度、統(tǒng)計(jì)報(bào)告
接口:USB 3.0、以太網(wǎng)、VGA
電源:AC 380V±10%,50Hz,功率≤5kW
工作環(huán)境:5~40℃,濕度≤85%RH
外形尺寸:1800×1200×1500mm(落地式)
產(chǎn)品特點(diǎn)
高精度與低檢測(cè)限:分光晶體實(shí)現(xiàn)波長(zhǎng)精準(zhǔn)分離,0.1ppm級(jí)痕量元素檢測(cè)能力,適合復(fù)雜基體樣品分析。
多元素同步分析:一次掃描可檢測(cè)30余種元素,支持從輕元素(Na)到重元素(U)的寬范圍覆蓋。
穩(wěn)定性與可靠性:長(zhǎng)期運(yùn)行光路穩(wěn)定,適合高精度實(shí)驗(yàn)室與生產(chǎn)線在線檢測(cè)。
智能軟件與數(shù)據(jù)庫(kù):內(nèi)置合金牌號(hào)、礦石類型標(biāo)準(zhǔn)曲線庫(kù),支持自動(dòng)匹配與報(bào)告生成,兼容第三方軟件(如AQC)。
合規(guī)性保障:符合GB/T 17359-2012《微束分析 能譜法定量分析》及ISO 15632-2012標(biāo)準(zhǔn),測(cè)量數(shù)據(jù)可直接用于產(chǎn)品質(zhì)量認(rèn)證與科研論文發(fā)表。