本發(fā)明描述一種離子植入裝置和一種制造一半導(dǎo)體裝置的方法,其中植入電離氫化硼分子簇以形成P型晶體管結(jié)構(gòu)。舉例而言,在制造互補(bǔ)型金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)裝置中,植入該等簇以為源極和漏極結(jié)構(gòu)與多柵極提供P型摻雜,此等摻雜步驟對(duì)于形成PMOS晶體管而言是至關(guān)重要的。該等分子簇離子具有化學(xué)形式BnHx+和BnHx-,其中10≤n≤100且0≤x≤n+4。
聲明:
“離子植入裝置和一種通過植入氫化硼簇離子制造半導(dǎo)體的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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