權(quán)利要求 1.冶金生產(chǎn)過程中棒材所貼標(biāo)簽的識(shí)別方法，標(biāo)簽設(shè)置于所述棒材的端面，其特征在于，所述方法包括： 采集棒材的端面圖像并存入數(shù)據(jù)庫； 對(duì)所述數(shù)據(jù)庫內(nèi)的端面圖像進(jìn)行預(yù)處理，得到第一圖像； 對(duì)預(yù)處理得到的第一圖像對(duì)進(jìn)行圖像增強(qiáng)，得到第二圖像； 基于所述第二圖像對(duì)標(biāo)簽進(jìn)行標(biāo)注，并將標(biāo)注后的第二圖像進(jìn)行格式轉(zhuǎn)換，得到樣本圖像； 利用所述樣本圖像對(duì)初始神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行訓(xùn)練，得到標(biāo)簽檢測(cè)模型； 采集棒材標(biāo)簽的端面圖像，利用所述標(biāo)簽檢測(cè)模型對(duì)所述端面圖像進(jìn)行檢測(cè)，得到端面圖像中包含的標(biāo)簽； 對(duì)所述標(biāo)簽進(jìn)行識(shí)別，得到標(biāo)簽信息。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的冶金生產(chǎn)過程中棒材所貼標(biāo)簽的識(shí)別方法，其特征在于，所述標(biāo)簽檢測(cè)模型為包括SSD、YOLO中的一種。 3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的冶金生產(chǎn)過程中棒材所貼標(biāo)簽的識(shí)別方法，其特征在于，得到端面圖像中包含的標(biāo)簽的步驟后，還包括： 確定標(biāo)簽的標(biāo)簽參數(shù)，所述標(biāo)簽參數(shù)包括標(biāo)簽數(shù)量或/和標(biāo)簽斜率； 根據(jù)所述標(biāo)簽參數(shù)判斷所述標(biāo)簽是否異常。 4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的冶金生產(chǎn)過程中棒材所貼標(biāo)簽的識(shí)別方法，其特征在于，所述對(duì)預(yù)處理得到的第一圖像對(duì)進(jìn)行圖像增強(qiáng)，包括： 對(duì)比度增強(qiáng)或/和亮度增強(qiáng)。 5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的冶金生產(chǎn)過程中棒材所貼標(biāo)簽的識(shí)別方法，其特征在于，所述對(duì)比度增強(qiáng)包括： 將所述第一圖像分為低頻部分和高頻部分；其中，通過低通濾波對(duì)所述第一圖像進(jìn)行處理，得到所述低頻部分，利用所述第一圖像減去所述低頻部分，得到高頻部分；對(duì)所述高頻部分進(jìn)行放大，并將放大后的所述高頻部分加入到所述低頻部分中，得到第二圖像； 其中，第二圖像的像素值f(i,j)為: f(i,j)＝m x(i,j)+G(i,j)[x(i,j)-m x(i,j)] m x(i,j)為低頻部分的像素值，x(i,j)-m x(i,j)為高頻部分的像素值，G(i,j)為增益，大于1；    i,j為圖像中心點(diǎn)的坐標(biāo)，k,l為圖像中心點(diǎn)周圍鄰域的坐標(biāo)，n為整數(shù)，(2n+1) 2為大小為(2n+1)*(2n+1)的區(qū)域， 為標(biāo)準(zhǔn)差。