權(quán)利要求書： 1.一種金相顯微鏡小試樣測量裝置，其特征在于，包括雙頭螺絲、鐵片擋片和鐵片；所述鐵片的一端與所述雙頭螺絲活動連接，所述鐵片能夠圍繞所述雙頭螺絲上下移動和360度旋轉(zhuǎn)，所述鐵片的另一端與所述鐵片擋片連接。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的金相顯微鏡小試樣測量裝置，其特征在于，所述鐵片和所述雙頭螺絲環(huán)形連接，所述鐵片和所述鐵片擋片焊接。3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的金相顯微鏡小試樣測量裝置，其特征在于，所述雙頭螺絲的長度為5mm，所述鐵片的長為10mm，寬為8mm，所述鐵片擋片的長為30mm，寬為20mm。 說明書： 一種金相顯微鏡小試樣測量裝置技術(shù)領(lǐng)域[0001] 本實用新型屬于金屬材料檢測領(lǐng)域，具體為一種金相顯微鏡小試樣測量裝置。背景技術(shù)[0002] 電腦型金相顯微鏡或數(shù)碼金相顯微鏡是將光學顯微鏡技術(shù)、光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、計算機圖像處理技術(shù)完美地結(jié)合在一起而開發(fā)研制成的高科技產(chǎn)品，可以在計算機上很方便地觀察金相圖像，從而對金相圖譜進行分析[0003] 金相學主要指借助光學(金相)顯微鏡和體視顯微鏡等對材料顯微組織、低倍組織和斷口組織等進行分析研究和表征的材料學科分支，既包含材料顯微組織的成像及其定性、定量表征，亦包含必要的樣品制備、準備和取樣方法。其主要反映和表征構(gòu)成材料的相和組織組成物、晶粒(亦包括可能存在的亞晶)、非金屬夾雜物乃至某些晶體缺陷(例如位錯)的數(shù)量、形貌、大小、分布、取向、空間排布狀態(tài)等。[0004] 現(xiàn)有技術(shù)中金相倒置顯微鏡在檢測小試樣時，由于試樣的觀察表面應(yīng)朝下，試樣太小可能造成試樣從中間孔洞掉下?lián)p壞物鏡。實用新型內(nèi)容[0005] 有鑒于此，本實用新型的目的在于提供一種金相顯微鏡小試樣測量裝置，所述小試樣測量裝置能夠夠避免金相倒置顯微鏡在檢測小試樣時，由于的試樣太小掉落造成物鏡的損壞，保證物鏡的安全。[0006] 為了實現(xiàn)上述實用新型的目的，本實用新型提供以下技術(shù)方案：[0007] 一種金相顯微鏡小試樣測量裝置，包括雙頭螺絲、鐵片擋片和鐵片；所述鐵片的一端與所述雙頭螺絲活動連接，所述鐵片能夠圍繞所述雙頭螺絲上下移動和360度旋轉(zhuǎn)，所述鐵片的另一端與所述鐵片擋片連接。[0008] 優(yōu)選地，所述鐵片和所述雙頭螺絲環(huán)形連接，所述鐵片和所述鐵片擋片焊接。[000