權(quán)利要求書: 1.一種U型同步測(cè)厚儀,包括機(jī)架(10),所述機(jī)架(10)內(nèi)部設(shè)有用于移動(dòng)片材的傳送輥(11),其特征在于,所述機(jī)架(10)上還設(shè)有立架(12),所述立架(12)上下兩端分別設(shè)有一個(gè)滑軌(20),所述滑軌(20)上滑設(shè)有滑座(21),兩個(gè)所述滑座(21)對(duì)向設(shè)置且二者其中之一上設(shè)有X射線發(fā)射器(31),另一個(gè)上設(shè)有X射線接收器(32),所述機(jī)架(10)上還設(shè)有繞繩輥(25)以及用于控制繞繩輥(25)轉(zhuǎn)動(dòng)的動(dòng)力軸(26),所述繞繩輥(25)外側(cè)纏繞有拉繩(24),所述拉繩(24)中部與所述繞繩輥(25)固定連接,所述拉繩(24)一端與一個(gè)所述滑座(21)固定連接,所述拉繩(24)另一端與另一個(gè)所述滑座(21)固定連接,所述滑座(21)與所述立架(12)之間還設(shè)有用于控制所述滑座(21)復(fù)位的壓簧(22)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種U型同步測(cè)厚儀,其特征在于,所述立架(12)上還設(shè)有用于改變所述拉繩(24)移動(dòng)方向的定滑輪(23)。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種U型同步測(cè)厚儀,其特征在于,一個(gè)所述滑座(21)上連接有第一伸縮線(33),另一個(gè)所述滑座(21)上連接有第二伸縮線(34),所述第一伸縮線(33)一端連接有處理器,所述第一伸縮線(33)另一端與所述X射線發(fā)射器(31)電性連接,所述第二伸縮線(34)一端與處理器電性連接,所述第二伸縮線(34)另一端與所述X射線接收器(32)電性連接。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種U型同步測(cè)厚儀,其特征在于,所述滑軌(20)一端與所述立架(12)固定連接,所述立架(12)另一端設(shè)有用于限制所述滑座(21)滑動(dòng)范圍的限位塊(30),所述限位塊(30)與所述滑軌(20)固定連接。 說(shuō)明書: 一種U型同步測(cè)厚儀技術(shù)領(lǐng)域[0001] 本實(shí)用新型涉及測(cè)厚儀領(lǐng)域,特別地,涉及一種U型同步測(cè)厚儀。背景技術(shù)[0002] 測(cè)厚儀主要用于測(cè)量片材的厚度,由于部分頻率的光譜穿過(guò)不同厚度的片材時(shí)光譜強(qiáng)度會(huì)減弱,因此通過(guò)檢測(cè)特定頻率、固定強(qiáng)度的光譜穿過(guò)片材前后的強(qiáng)度變化經(jīng)計(jì)算可得出片材厚度。[0003] 現(xiàn)有的片材厚度光譜檢測(cè)設(shè)備通常包括一個(gè)X射線發(fā)射器與一個(gè)X射線接收器,二者分別安裝于片材兩側(cè)的滑軌上,采用兩個(gè)步進(jìn)電機(jī)利用程序控制X射線發(fā)射器與
聲明:
“U型同步測(cè)厚儀” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)