權(quán)利要求書： 1.一種用于測試電子元件的冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)，包括基板(1)和測試箱(2)，其特征在于：所述測試箱(2)位于基板(1)上表面，所述測試箱(2)內(nèi)部設(shè)置有冷測試倉(3)和熱測試倉(4)，所述冷測試倉(3)與熱測試倉(4)之間設(shè)置有真空層(22)，所述真空層(22)內(nèi)部設(shè)置有保溫板(23)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于測試電子元件的冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)，其特征在于，所述冷測試倉(3)內(nèi)表面安裝有制冷機(jī)構(gòu)(5)，所述冷測試倉(3)內(nèi)部設(shè)置有隔冷板(6)，所述制冷機(jī)構(gòu)(5)輸出端安裝有導(dǎo)冷管(7)，所述導(dǎo)冷管(7)貫穿隔冷板(6)，所述冷測試倉(3)底面安裝有第一測試臺(8)，所述第一測試臺(8)位于導(dǎo)冷管(7)下方。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于測試電子元件的冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)，其特征在于，所述冷測試倉(3)一側(cè)面設(shè)置有若干散冷槽(9)，所述冷測試倉(3)前端面安裝有第一旋轉(zhuǎn)門(10)，所述第一旋轉(zhuǎn)門(10)前端面設(shè)置有觀測窗(11)。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于測試電子元件的冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)，其特征在于，所述熱測試倉(4)內(nèi)表面安裝有制熱機(jī)構(gòu)(12)，所述熱測試倉(4)內(nèi)部設(shè)置有隔熱板(13)，所述制熱機(jī)構(gòu)(12)輸出端安裝有導(dǎo)熱管(14)，所述熱測試倉(4)底面安裝有第二測試臺(15)，所述第二測試臺(15)位于導(dǎo)熱管(14)下方，所述測試箱(2)前端面安裝有控制器(19)，所述制熱機(jī)構(gòu)(12)和制冷機(jī)構(gòu)(5)均與控制器(19)電性連接。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種用于測試電子元件的冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)，其特征在于，所述熱測試倉(4)一側(cè)面設(shè)置有散熱槽(16)，所述散熱槽(16)內(nèi)部安裝有冷扇(17)，所述熱測試倉(4)前端面安裝有第二旋轉(zhuǎn)門(18)，所述第二旋轉(zhuǎn)門(18)前端面也設(shè)置有觀測窗(11)。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于測試電子元件的冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)，其特征在于，所述基板(1)底面設(shè)置有若干底柱(20)，所述底柱(20)底面安裝有鎖止萬向輪(21)。 說明書： 一種用于測試電子元件的冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)技術(shù)領(lǐng)域[0001] 本實(shí)用新型屬于電子元件技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種用于測試電子元件的冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)。背景技術(shù)[0002] 電子元件，是電子電路中的基本元素，通常是