本發(fā)明公開了一種基于自激勵(lì)單電子自旋電磁晶體管及制作工藝,所述晶體管包括襯底,襯底上設(shè)置有納米碳化硅薄膜結(jié)構(gòu)、源極、漏極、柵極,納米碳化硅薄膜結(jié)構(gòu)由層狀納米碳化硅單晶體薄膜互嵌構(gòu)成,納米碳化硅薄膜結(jié)構(gòu)的兩端分別與源極和漏極接觸,形成源漏極有源區(qū),納米碳化硅薄膜結(jié)構(gòu)的上部依次設(shè)置有絕緣層、接觸金屬層,柵極從接觸金屬層引出。本發(fā)明通過設(shè)置由層狀納米碳化硅單晶體薄膜互嵌構(gòu)成的納米碳化硅薄膜結(jié)構(gòu)形成的納米線或帶,作為晶體管有源區(qū),源漏極用Pd作為接觸金屬,形成肖特基勢壘,其中出現(xiàn)隧穿。在室溫下,本發(fā)明基于自激勵(lì)單電子自旋電磁晶體管的源漏電壓與漏電流的關(guān)系呈現(xiàn)干涉現(xiàn)象。
聲明:
“自激勵(lì)單電子自旋電磁晶體管及制作工藝” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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