本實用新型公開了一種磁環(huán)電性能檢測裝置,屬于電子元件檢測設(shè)備領(lǐng)域。該檢測裝置包括絕緣轉(zhuǎn)盤、檢測機構(gòu)和分揀機構(gòu),所述的絕緣轉(zhuǎn)盤上設(shè)有若干組呈環(huán)形分布的落料槽和卡槽,所述的落料槽與卡槽相通,所述的卡槽內(nèi)設(shè)有吹氣口和絕緣耐磨墊;所述的絕緣耐磨墊上設(shè)有測試槽和吹氣槽,所述的落料槽位于測試槽的正上方,所述的測試槽通過吹氣槽與吹氣口相連通;所述的檢測機構(gòu)自動檢測測試槽上的產(chǎn)品,所述的分揀機構(gòu)通過往吹氣口吹氣實現(xiàn)對合格品和不合格品的分揀。本實用新型通過在絕緣轉(zhuǎn)盤上設(shè)置落料槽和卡槽,以及通過在卡槽內(nèi)設(shè)置絕緣耐磨墊,可以減小磁環(huán)產(chǎn)品對絕緣轉(zhuǎn)盤的磨損,從而可以避免頻繁更換絕緣轉(zhuǎn)盤,以降低生產(chǎn)成本和提高檢測效率。
聲明:
“一種磁環(huán)電性能檢測裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)