本發(fā)明公開了一種低維光電材料的性能測試裝置，涉及光電材料檢測技術(shù)領(lǐng)域，解決了現(xiàn)有裝置未設(shè)置可以對多晶硅薄膜進(jìn)行彎折疲勞度檢測的結(jié)構(gòu)的問題。一種低維光電材料的性能測試裝置，包括工作臺；所述工作臺頂部固定連接有控制部；所述工作臺頂部右側(cè)固定連接有穩(wěn)定臺，穩(wěn)定臺頂部通過鉸連接設(shè)置有往復(fù)絲桿；所述工作臺頂部左側(cè)固定連接有遮光箱，遮光箱內(nèi)部設(shè)置有光電轉(zhuǎn)換性能檢測機(jī)構(gòu)；通過控制往復(fù)絲桿持續(xù)轉(zhuǎn)動，可以控制兩組立架進(jìn)行相反方向的往復(fù)平移，可以使多晶硅薄膜進(jìn)行往復(fù)彎折，通過控制部實(shí)時監(jiān)測薄膜電流情況，可以對多晶硅薄膜進(jìn)行彎折疲勞度檢測。