本發(fā)明提供了一種EPMA?WDX的全巖礦物識(shí)別與平面成像方法及裝置,包括:對(duì)樣品光薄片的組成元素進(jìn)行WDX面掃描分析獲得面掃描圖像;根據(jù)面掃描圖像篩選出無法確定礦物類型的樣品光薄片;對(duì)無法確定礦物類型的樣品光薄片進(jìn)行EDX及WDX分析獲得識(shí)別結(jié)果;利用識(shí)別結(jié)果對(duì)疊加處理后的面掃描圖像標(biāo)定礦物類型獲得全巖礦物原位平面圖。本申請(qǐng)所最終形成的原位全巖礦物平面分布圖,非常準(zhǔn)確,直觀又客觀。
聲明:
“EPMA-WDX的全巖礦物識(shí)別與平面成像方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)