本申請(qǐng)公開(kāi)了一種測(cè)試系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括：N個(gè)測(cè)試裝置以及探針部；所述探針部包括N組測(cè)試探針；每組測(cè)試探針包括第一極測(cè)試探針和第二極測(cè)試探針；每組測(cè)試探針用于電連接待測(cè)驅(qū)動(dòng)板的不同負(fù)載輸出端；各所述測(cè)試裝置包括第一輸入端以及第二輸入端；其中，第j測(cè)試裝置還包括第一輸出端以及第二輸出端；第N測(cè)試裝置的第一輸入端與第N組測(cè)試探針的第一極測(cè)試探針電連接。本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種測(cè)試系統(tǒng)，該測(cè)試系統(tǒng)包括多個(gè)測(cè)試裝置，該測(cè)試裝置能夠?qū)︱?qū)動(dòng)板上設(shè)置的多個(gè)負(fù)載輸出端連接的內(nèi)部電路進(jìn)行全面性能檢測(cè)，有效的解決了因?yàn)槁z電路而未檢測(cè)出驅(qū)動(dòng)板性能品質(zhì)不良的問(wèn)題。