本發(fā)明公開了一種測定電子陶瓷產(chǎn)品排膠效果的方法,包括以下步驟,將標(biāo)準電子陶瓷產(chǎn)品樣品和被測電子陶瓷產(chǎn)品進行排膠,選取三到四個排膠后的被測電子陶瓷產(chǎn)品作為樣品,對一個排膠后的被測電子陶瓷產(chǎn)品和標(biāo)準電子陶瓷產(chǎn)品樣品進行三點式彎曲強度檢測,對比三到四個排膠后的被測電子陶瓷產(chǎn)品彎曲強度應(yīng)力值與標(biāo)準電子陶瓷產(chǎn)品樣品的彎曲強度應(yīng)力值,對一個排膠后的被測電子陶瓷產(chǎn)品和標(biāo)準電子陶瓷產(chǎn)品樣品進行斷裂韌性檢測,并比對兩個產(chǎn)品的斷裂紋進行比較。本發(fā)明通從材料的根本上檢測,提高了檢測的精確度,多層比較避免出錯,提高了電子產(chǎn)品排膠檢測的質(zhì)量,避免了人工觀測誤差造成的產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量嚴重現(xiàn)象的發(fā)生。
聲明:
“一種測定電子陶瓷產(chǎn)品排膠效果的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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