本發(fā)明涉及一種基于帶電測試與有限元仿真的開關(guān)柜優(yōu)化方法及該開關(guān)柜，該方法根據(jù)開關(guān)柜型號結(jié)構(gòu)進行三維建模，獲得了開關(guān)柜穿墻套管、母線室、觸頭盒電場的電場分布特征，并找出了電場集中點。在與現(xiàn)場局放測試對應研究分析后，找出局放異常原因，并提出改進措施。從運維到選型，形成開關(guān)柜的全生命周期管理。