本發(fā)明公開了一種電子元器件檢測(cè)設(shè)備，涉及檢測(cè)設(shè)備領(lǐng)域，包括箱體、攝像頭、檢測(cè)裝置、控制顯示器、操作鍵、電機(jī)，還包括檢測(cè)盒、傳送機(jī)構(gòu)、驅(qū)動(dòng)機(jī)箱、標(biāo)記頭，所述箱體包括上箱體、底座，所述驅(qū)動(dòng)機(jī)箱設(shè)于所述上箱體的下端面上，所述檢測(cè)裝置、攝像頭、標(biāo)記頭依次設(shè)于所述驅(qū)動(dòng)機(jī)箱的下端面上，所述檢測(cè)盒設(shè)于底座的上端面上并與傳送機(jī)構(gòu)連接，所述控制顯示器設(shè)于所述上箱體的前端面上，控制顯示器分別與操作鍵、攝像頭、檢測(cè)裝置、電機(jī)、標(biāo)記頭、檢測(cè)盒電性連接?？梢酝ㄟ^檢測(cè)分別不合格的電子器件損壞的原因，同時(shí)標(biāo)記頭能夠?qū)﹄娮悠骷M(jìn)行標(biāo)記，將檢測(cè)過的器件與未檢測(cè)的進(jìn)行區(qū)別，防止混淆，提高了效率。