本實(shí)用新型屬于電子技術(shù)類，涉及一種FPGA器件基本性能測(cè)試裝置,主要包括過流保護(hù)電路、電源轉(zhuǎn)換電路、BGA測(cè)試插座，F(xiàn)PGA外圍電路、I/O測(cè)試電路、指示燈電路等。用于快速測(cè)量FPGA基本性能，包括上電引導(dǎo)、I/O引腳短路開路測(cè)試。由+5V電源適配器通過USB接口為檢測(cè)工裝供電，BGA測(cè)試插座用于固定被測(cè)芯片，測(cè)試時(shí)將被測(cè)芯片裝在BGA插座上。FPGA外圍電路包含PROM及外圍引導(dǎo)電路，PROM存放測(cè)試程序。I/O測(cè)試電路針對(duì)FPGA通用I/O特性，設(shè)計(jì)I/O輸出輸入驅(qū)動(dòng)電路，對(duì)每個(gè)FPGA引腳輸出輸入特性進(jìn)行測(cè)試。本測(cè)試裝置檢測(cè)FPGA芯片基本性能，用于芯片質(zhì)量控制，保證后續(xù)生產(chǎn)順利進(jìn)行。