本發(fā)明屬于芯片制造技術(shù)領(lǐng)域,尤其是一種大功率放電管芯片制造工藝,針對(duì)現(xiàn)有的放電管芯片制作方式復(fù)雜,且制作芯片漏電流高,電容值高,高溫反偏性能弱,抗浪涌能力弱的問(wèn)題,現(xiàn)提出如下方案,其包括以下步驟:S1:擴(kuò)散前處理;S2:氧化;S3:?jiǎn)蜗蚬饪?;S4:低溫氧化;S5:離子注入;S6:氧化表面處理;S7:光刻處理;S8:測(cè)試,所述S1中準(zhǔn)備并采用N型單晶硅片,通過(guò)酸、SC3#配方清洗工序,對(duì)硅片表面進(jìn)行化學(xué)處理。本發(fā)明設(shè)計(jì)成正面TSS,背面TVS與AK系列TVS合并封裝成一種保護(hù)器件,漏電流低,電容值低,高溫反偏性能強(qiáng),抗浪涌能力強(qiáng)。
聲明:
“大功率放電管芯片制造工藝” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)