本實用新型公開了一種超聲波無損檢測減少盲區(qū)大晶片斜探頭，涉及超聲波無損檢測技術(shù)領(lǐng)域。本實用新型有一探頭主體，在探頭主體的底部設(shè)置一層保護(hù)膜；保護(hù)膜的底端邊緣與其上端邊緣之間構(gòu)成三角形檢測區(qū)，底端邊緣打磨長度為保護(hù)膜厚度的1.8-2.1倍。優(yōu)點：本實用新型主要通過減少探頭前沿長度的方法，達(dá)到超聲波無損檢測時減少一次波盲區(qū)的目的，這樣探頭可以更貼近工件被檢測區(qū)域。