本發(fā)明公開了一種珍珠珠層厚度的無損檢測方法，包括：利用X射線放射源逐一照射兩個待測物體，得到兩個初始圖像；依據(jù)像素點的灰度值，判斷一個像素點是否為邊界點，從而從初始圖像中識別出待測物體圖像的所有的邊界點；對于標(biāo)準(zhǔn)球體，利用識別出的邊界點擬合成一個圓，并以該圓的半徑為標(biāo)準(zhǔn)球體圖像的半徑R0；對于待測珍珠，利用識別出的邊界點擬合成三個同心圓，其中，以位于中心的一個圓的半徑為珠核圖像的半徑R2，以位于最外側(cè)的一個圓的半徑為待測珍珠圖像的半徑R1；待測珍珠的半徑為r1=μR1，珠核的半徑為r2=μR2，則珠層厚度為r=r1-r2，其中，比例系數(shù)μ=r0／R0，r0為標(biāo)準(zhǔn)球體的半徑。本發(fā)明實現(xiàn)了珠層厚度的計算，測量結(jié)果更為準(zhǔn)確。