本實用新型屬于水果檢測技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種蘋果表面損傷無損檢測裝置,包括計算機、光譜儀、光源、反射探頭、反射探頭支架以及用于作為反射光譜測量參比的反射白板,所述計算機連接光譜儀,所述光譜儀和光源均通過光纖連接反射探頭,所述反射探頭安裝在反射探頭支架上;還包括用于多方位轉(zhuǎn)動蘋果樣本的旋轉(zhuǎn)支架,所述反射探頭對準位于所述旋轉(zhuǎn)支架上的蘋果樣本。本實用新型以解決現(xiàn)有技術(shù)中針對光纖光譜采集系統(tǒng)僅能采集蘋果樣本單個點的光譜的問題。
聲明:
“蘋果表面損傷無損檢測裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)