本發(fā)明公開(kāi)了一種基于高光譜成像技術(shù)的蘋(píng)果表面缺陷快速無(wú)損識(shí)別方法，該方法包括以下步驟：收集完好無(wú)損和表面有缺陷蘋(píng)果樣本隨機(jī)分配，建立校正樣本集和檢驗(yàn)樣本集；利用高光譜圖像采集系統(tǒng)采集校正和檢驗(yàn)樣本集蘋(píng)果樣本的高光譜圖像；對(duì)高光譜圖像進(jìn)行黑白校正，并通過(guò)掩膜處理以消除背景，使圖像中僅含蘋(píng)果。然后，分別提取蘋(píng)果正常區(qū)域以及表面有缺陷區(qū)域的平均光譜，并采用多元散射校正（MSC）對(duì)原始光譜進(jìn)行預(yù)處理，得到校正和檢驗(yàn)樣本集光譜數(shù)據(jù)。最后，利用偏最小二乘判別分析方法結(jié)合化學(xué)計(jì)量學(xué)，建立蘋(píng)果表面缺陷的識(shí)別模型。本發(fā)明通過(guò)高光譜成像技術(shù)可快速、無(wú)損地識(shí)別出表面有缺陷的蘋(píng)果。