本發(fā)明提供一種基于脈沖渦流陣列的缺陷檢測(cè)裝置及方法，涉及無損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。本方法的過程如下：信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生周期性脈沖信號(hào)，經(jīng)功率放大器放大后，施加到激勵(lì)線圈兩端。檢測(cè)線圈陣列單元采集被測(cè)試件上方磁場(chǎng)信號(hào)，輸出給信號(hào)調(diào)理單元；信號(hào)調(diào)理單元對(duì)信號(hào)進(jìn)行濾波、放大后輸出給A/D轉(zhuǎn)換單元，最后，送入DSP數(shù)據(jù)處理模塊，求取缺陷的尺寸信息。本發(fā)明裝置對(duì)檢測(cè)陣列數(shù)據(jù)了進(jìn)行了聚類和均值處理，有效抑制了檢測(cè)陣列線圈傾斜或提離對(duì)缺陷檢測(cè)的影響；采用了一個(gè)線圈作為激勵(lì)、多個(gè)檢測(cè)線圈組成陣列的結(jié)構(gòu)，即減小了磁場(chǎng)的干擾，又實(shí)現(xiàn)了更為全面的缺陷信息檢測(cè)；將時(shí)域特征量和頻域特征量相結(jié)合，提高了缺陷檢測(cè)精度。