本實(shí)用新型屬于電磁無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,涉及用于檢測(cè)深裂紋的圓形相切式渦流探頭。所述探頭包括激勵(lì)元件、檢測(cè)元件和固定架(9);所述激勵(lì)元件包括大激勵(lì)線圈(1)、大激勵(lì)線圈繞線盤(6)、小激勵(lì)線圈(2)和小激勵(lì)線圈繞線柱(7);所述大激勵(lì)線圈(1)與小激勵(lì)線圈(2)內(nèi)切;所述檢測(cè)元件包括檢測(cè)線圈支座(11)、檢測(cè)線圈繞線柱(8)、磁場(chǎng)屏蔽板(5)、檢測(cè)線圈(3)和磁場(chǎng)屏蔽筒(4);所述磁場(chǎng)屏蔽板(5)、檢測(cè)線圈(3)和磁場(chǎng)屏蔽筒(4)依次套在檢測(cè)線圈繞線柱(8)上,檢測(cè)線圈(3)位于磁場(chǎng)屏蔽板(5)和磁場(chǎng)屏蔽筒(4)形成的屏蔽外殼內(nèi)。本實(shí)用新型探頭探測(cè)深度大、效率高。
聲明:
“用于檢測(cè)深裂紋的圓形相切式渦流探頭” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)