本發(fā)明公開了一種半透明介質(zhì)材料光熱特性測量系統(tǒng)與方法，所述測量系統(tǒng)由計算機、二維移動臺、支架、小離軸拋物鏡、準直鏡、光纖、半導(dǎo)體激光器、大離軸拋物鏡、電源線、激光器電源、HCT熱探測器、BNC數(shù)據(jù)線、前置放大器、激光器控制線、鎖相放大器、鎖相放大器控制線、數(shù)據(jù)采集信號線構(gòu)成，所述測量方法基于光熱輻射測量原理，采用計算機控制函數(shù)發(fā)生器產(chǎn)生調(diào)制信號，信號控制激光器使其光強按調(diào)制規(guī)律變化，調(diào)制變化的激光照射到樣件后由于存在光熱效應(yīng)，樣件出現(xiàn)溫度漲落與紅外輻射，光熱輻射信號與樣件光熱特性參數(shù)相關(guān)，信號被HCT熱探測器接收，進而通過數(shù)學(xué)運算提取樣件光熱特性參數(shù)。本發(fā)明可以實現(xiàn)材料完全無損傷、非接觸、高效測量。