本實用新型提供了一種用于單層電容的測試夾具,有效的解決了現(xiàn)有的夾具會對電容電極造成損傷和測試效率較低等問題,實現(xiàn)了對單層電容的無損測試及老化,簡化了對單層電容在測試及老化環(huán)節(jié)的取放操作,提高了生產(chǎn)效率的提高,降低了設(shè)備成本,包括兩個相互平行設(shè)置的電極板,其特征在于:所述電極板之間分別對應(yīng)設(shè)置有探針,所述探針上下配合夾持單層電容,所述探針的探針端頭的平面觸點(diǎn)面積大于單層電容的電極面積。
聲明:
“用于單層電容的測試夾具” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)