本發(fā)明涉及一種提高光電轉(zhuǎn)化性能的紅外焦平面探測(cè)器,包括位于芯片中央背光面的焦平面光敏元,與光敏元連接的n型金屬電極,環(huán)繞所有光敏元的p型半導(dǎo)體材料構(gòu)成的公共電極,還包括遮光板,位于公共電極的迎光面,阻擋入射的紅外光照射到公共電極迎光面,使入射光從遮光板的孔隙中進(jìn)入紅外焦平面探測(cè)器中。與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明在保持紅外焦平面模塊基本結(jié)構(gòu)的情況下,只需要在紅外焦平面模塊外增加一層遮光板,因此具有簡(jiǎn)單、方便、對(duì)器件無(wú)損傷、實(shí)用性。
聲明:
“提高光電轉(zhuǎn)化性能的紅外焦平面探測(cè)器” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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