本發(fā)明公開了基于探地雷達(dá)與波前干擾偏移的樹干內(nèi)部缺陷成像方法，涉及林木無損檢測(cè)領(lǐng)域。該方法使用探地雷達(dá)圍繞樹干發(fā)射電磁波，生成B掃描數(shù)據(jù)作為輸入，然后根據(jù)雷達(dá)信號(hào)穿透樹干直徑所需時(shí)間，估計(jì)樹干整體介電常數(shù)，并使用易形變且不回彈金屬絲提取樹干輪廓信息并建模。首先對(duì)B掃描數(shù)據(jù)進(jìn)行零點(diǎn)選取、背景去除、時(shí)變?cè)鲆?、奇異值分解以及二值化操作，然后?duì)B掃描數(shù)據(jù)的每一條A掃描數(shù)據(jù)在樹干上的測(cè)量點(diǎn)進(jìn)行波前干擾偏移，并將偏移結(jié)果疊加，得到樹干內(nèi)部缺陷的斷層圖像。該方案操作簡單，能夠?qū)崟r(shí)獲得測(cè)量結(jié)果，對(duì)樹干缺陷檢測(cè)具有指導(dǎo)作用。