本發(fā)明公開了一種判別光學異構體旋光性的近紅外光譜分析方法，先在一定的測量條件下采集光學異構體各左旋體樣品和右旋體樣品的近紅外光譜，所得光譜不進行預處理或進行化學計量學預處理，從所得光譜數(shù)據(jù)中選擇建模光譜范圍，對所選光譜范圍的數(shù)據(jù)進行降維后，采用化學計量學方法建立并驗證光學異構體的旋光性判別模型；然后取未知旋光性的光學異構體樣品，按照前述相同方法采集近紅外光譜并進行光譜數(shù)據(jù)的多步驟處理，最后應用所建模型進行光學異構體的旋光性判別。本發(fā)明基于光學異構體的近紅外光譜，結合化學計量學技術，判別光學異構體的旋光性，具有準確、簡便、快速、無損的優(yōu)點。