本發(fā)明公開(kāi)了一種基于電致發(fā)光計(jì)算太陽(yáng)電池片局部IV性能的方法，通過(guò)在標(biāo)準(zhǔn)晶體硅太陽(yáng)電池片電池上施加兩組不同的外加偏壓，得到相應(yīng)的電致發(fā)光圖像，然后計(jì)算得到校準(zhǔn)系數(shù)，局部光生電流，局部串、并聯(lián)電阻以及局部理想因子，最后根據(jù)單二極管等效電路模型，得到電池片局部IV曲線(xiàn)。本發(fā)明通過(guò)利用電致發(fā)光測(cè)試方法可以快速的計(jì)算出電池片的五個(gè)局部性能參數(shù)得到局部IV曲線(xiàn)，可以在對(duì)電池片的無(wú)損害的情況下，能夠判斷電池片產(chǎn)生光生載流子的能力，判斷電池片局部IV性能，提高電池的可靠性。