本發(fā)明公開(kāi)了一種三參數(shù)韋伯分布處理閃絡(luò)電壓分析絕緣材料性能的方法，包括以下步驟：采集n個(gè)閃絡(luò)電壓，按升序排列組建電壓向量U，并賦予失效序數(shù)；建立三參數(shù)韋伯分布閃絡(luò)電壓概率模型；計(jì)算各失效序數(shù)下的閃絡(luò)電壓對(duì)應(yīng)的累積閃絡(luò)概率；擬合所述三參數(shù)韋伯分布閃絡(luò)電壓概率模型中的尺度參數(shù)、形狀參數(shù)和位置參數(shù)；使用所述三參數(shù)韋伯分布閃絡(luò)電壓概率模型分析絕緣材料的性能。它采用三參數(shù)的韋伯分布處理閃絡(luò)電壓數(shù)據(jù)，計(jì)算閃絡(luò)概率，與兩參數(shù)相比更接近現(xiàn)實(shí)，擬合效果更好，準(zhǔn)確度更高。并且在求取累計(jì)閃絡(luò)概率時(shí)，利用失效等級(jí)概念，采用中位秩公式對(duì)失效等級(jí)進(jìn)行修正，避免了因樣本數(shù)量不足引起的結(jié)果偏差。并且計(jì)算簡(jiǎn)潔，運(yùn)算速度快?？捎糜陂W絡(luò)電壓預(yù)測(cè)，根據(jù)閃絡(luò)概率要求確定絕緣設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)。