本發(fā)明屬于半導(dǎo)體集成電路設(shè)計(jì)領(lǐng)域，提供了一種晶振檢測(cè)電路及晶振檢測(cè)方法。本發(fā)明提供的晶振檢測(cè)電路，包括信號(hào)發(fā)生模塊、復(fù)位驅(qū)動(dòng)模塊、復(fù)位模塊以及判定模塊，由信號(hào)發(fā)生模塊接入被測(cè)晶振電路的晶振信號(hào)，通過(guò)判斷復(fù)位模塊的工作狀態(tài)判斷被測(cè)晶振電路是否產(chǎn)生振蕩信號(hào)，從而及時(shí)判斷被測(cè)晶振電路是否失效，提高了電路的可靠性，保證了電路后續(xù)定時(shí)功能的正常運(yùn)行。