本發(fā)明公開了一種基于灰色系統(tǒng)理論LED芯片熱振加速壽命預(yù)測方法，首先通過對LED芯片施加不同加載模式下的加速應(yīng)力，采集不同加速應(yīng)力下的壽命實驗原始數(shù)據(jù)，然后運用灰色系統(tǒng)理論對實驗原始數(shù)據(jù)進行灰處理，獲得灰色分析數(shù)據(jù)，并構(gòu)建灰色系統(tǒng)理論預(yù)測模型，最后對所建灰色系統(tǒng)理論模型進行灰色關(guān)聯(lián)度分析。與現(xiàn)有技術(shù)相比，灰色系統(tǒng)預(yù)測模型不用考慮溫振相互作用關(guān)系及物理失效規(guī)律相關(guān)的統(tǒng)計模型，可獲得高效、準確的預(yù)測與評估。本發(fā)明能夠通過加速應(yīng)力下的原始壽命數(shù)據(jù)，通過灰色系統(tǒng)理論的數(shù)列預(yù)測，來預(yù)估正常工作時熱和振動雙應(yīng)力下LED芯片的壽命，預(yù)測結(jié)果更接近工程實際，可為設(shè)計和生產(chǎn)高性能、高穩(wěn)定性LED芯片提供科學(xué)數(shù)據(jù)理論參考依據(jù)。