本發(fā)明所公開內(nèi)容為在存儲器內(nèi)建自測試環(huán)境中對失敗的存儲器測試的測試響應(yīng)標(biāo)記進行暫時壓縮的方法和器件,其目的是即使在檢測到多個與時間相關(guān)的存儲器測試故障時也能夠進行存儲器內(nèi)建自測試操作。在本發(fā)明的一些實施例中,被壓縮的測試響應(yīng)標(biāo)記在自動化測試設(shè)備器件上與存儲器位置信息一起給出。根據(jù)本發(fā)明的各種實施例,帶有嵌入式存儲器(204)的集成電路以及存儲器BIST控制器(206)還包括用作標(biāo)記寄存器的線性反饋結(jié)構(gòu)(410),可在存儲器測試的某一測試步驟中對來自嵌入式存儲器陣列的測試響應(yīng)標(biāo)記進行暫時壓縮。在各種實施例申,集成電路還可能包括失效字計數(shù)器(211)、失效列指示器(213)和/或失效行指示器(214),用以對失敗的測試響應(yīng)收集存儲器位置信息。