本發(fā)明提供了一種非揮發(fā)性存儲器的自測試方法和裝置，非揮發(fā)性存儲器包括自測試控制器，非揮發(fā)性存儲器與測試設(shè)備相連，方法包括：通過非揮發(fā)性存儲器接收測試設(shè)備發(fā)送的啟動自測試指令；啟動自測試控制器，確定最大測試次數(shù)和非揮發(fā)性存儲器的各待測試項目；通過自測試控制器根據(jù)各待測試項目對非揮發(fā)性存儲器進行測試，直至對各待測試項目的測試次數(shù)等于最大測試次數(shù)，或直至任一待測試項目的測試結(jié)果為非揮發(fā)性存儲器失效；若任一待測試項目的測試結(jié)果為非揮發(fā)性存儲器失效，則通過自測試控制器記錄對應(yīng)的項目失效信息至非揮發(fā)性存儲器的第一預(yù)設(shè)存儲空間。本發(fā)明使得老化測試簡單方便，大幅降低了老化測試對測試設(shè)備的要求，測試成本更低。