本申請公開了一種量產(chǎn)測試方法、系統(tǒng)和存儲介質(zhì)，以實現(xiàn)在量產(chǎn)測試時做到測試數(shù)據(jù)質(zhì)量高、良率損失低且測試時間短三者兼顧。該方法包括：獲取同一型號不同批次的芯片的實測參數(shù)；基于所述實測參數(shù)，分別對各批次進(jìn)行失效率和良率的聯(lián)合卡控；對經(jīng)所述聯(lián)合卡控篩選出的問題批次進(jìn)行部件平均測試；根據(jù)聯(lián)合卡控結(jié)果和部件平均測試結(jié)果輸出本次量產(chǎn)測試結(jié)果。