本發(fā)明公開了一種高分辨率微顯示器缺陷修復(fù)方法，所述方法具體包括如下步驟：S1、定義亮點(diǎn)的亮度閾值，定位微顯示器中的亮點(diǎn)坐標(biāo)；S2、將亮點(diǎn)坐標(biāo)導(dǎo)入聚焦粒子束設(shè)備，聚焦粒子束設(shè)備對(duì)亮點(diǎn)坐標(biāo)對(duì)應(yīng)的像素進(jìn)行缺陷修復(fù)。本發(fā)明通過使用自動(dòng)點(diǎn)屏和光學(xué)測(cè)試設(shè)備自動(dòng)定位缺陷坐標(biāo)，F(xiàn)IB設(shè)備根據(jù)缺陷坐標(biāo)自動(dòng)定位，F(xiàn)IB直接沉積遮擋層或者先切割再沉積保護(hù)層，從而實(shí)現(xiàn)缺陷的自動(dòng)定位和自動(dòng)修補(bǔ)，解決了激光修補(bǔ)精度差，不能修補(bǔ)微顯的問題，同時(shí)避免了激光修補(bǔ)熱效應(yīng)導(dǎo)致的鄰近像素失效和封裝失效的問題。