本發(fā)明提供了一種傳感器壽命評估方法及裝置,所述方法包括:根據(jù)待測傳感器的工作環(huán)境特性獲取環(huán)境模擬條件;根據(jù)所述環(huán)境模擬條件對所述待測傳感器進行環(huán)境應力考核,并記錄所述待測傳感器在該環(huán)境模擬條件下的性能參數(shù);根據(jù)記錄的性能參數(shù)獲取所述待測傳感器的性能參數(shù)變化趨勢,繼而結合所述性能參數(shù)變化趨勢以及該待測傳感器的失效閾值進行計算得到所述待測傳感器在該環(huán)境模擬條件下的預期壽命。通過實施本發(fā)明實施例能夠有效簡化傳感器壽命評估操作,從而有效減少傳感器壽命評估的周期。
聲明:
“傳感器壽命評估方法及裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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