本公開(kāi)實(shí)施例涉及半導(dǎo)體領(lǐng)域,提供一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)和半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制造方法,半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)包括:基底,所述基底包括相鄰設(shè)置的芯片區(qū)和劃片道區(qū);偵測(cè)金屬層,位于所述基底上,且位于所述劃片道區(qū)靠近所述芯片區(qū)的一側(cè),所述偵測(cè)金屬層能夠在激光照射下發(fā)生形態(tài)變化。本公開(kāi)實(shí)施例至少可以提前偵測(cè)激光切割的效果,有利于降低半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的失效率。
聲明:
“半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)和半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制造方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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