權(quán)利要求書： 1.利用機(jī)制砂石粉篩分裝置進(jìn)行機(jī)制砂石粉形狀分類的方法，其特征在于：具體步驟如下： （1）提取石粉顆粒：打開電動(dòng)機(jī)和收集裝置開關(guān)，將機(jī)制砂倒入滾筒篩的進(jìn)料口，機(jī)制砂通過(guò)滾筒篩，小于0.15mm的石粉顆粒落于傳送帶上，傳送帶上的石粉顆粒通過(guò)收集裝置時(shí)，小于0.075mm的機(jī)制砂顆粒在電場(chǎng)力的作用下吸附于正極板上； （2）收集石粉顆粒：吸附完成后，取收集盒置于正極板下方，輕彈正極板，石粉顆粒落入收集盒內(nèi)完成收集，關(guān)閉電動(dòng)機(jī)與收集裝置開關(guān)； （3）鑒定分類：利用電子顯微鏡對(duì)收集盒內(nèi)的是否顆粒進(jìn)行拍照觀察，對(duì)石粉顆粒形狀進(jìn)行鑒定，并歸類；具體步驟為： A、通過(guò)電子顯微鏡對(duì)石粉顆粒的不同位置的直徑進(jìn)行共10次測(cè)量并取平均值為H，對(duì)石粉顆粒的凸起處形成的最大直徑進(jìn)行測(cè)量得L，將最大直徑減去平均直徑得出凸起高度* 為h，并將石粉顆粒的凸起與石粉顆粒直徑平均值進(jìn)行對(duì)比，計(jì)算公式為：h=L?H；W=h/H 100%；式中：W?石粉顆粒凸起占石粉顆粒直徑平均值的百分比；L?石粉顆粒在凸起處的石粉顆粒直徑長(zhǎng)度；h?石粉顆粒凸起高度；H?石粉顆粒多次直徑平均值； 對(duì)于同一石粉顆粒內(nèi)凸起的W的最大數(shù)值，W數(shù)值小于20%時(shí)為1區(qū)，大于20%小于40%為2區(qū)，其余為3區(qū)； B、通過(guò)電子顯微鏡對(duì)凹坑面積進(jìn)行計(jì)算：形狀規(guī)則凹坑通過(guò)測(cè)量邊對(duì)凹坑通過(guò)對(duì)應(yīng)的形狀面積計(jì)算方法進(jìn)行面積計(jì)算；對(duì)于不規(guī)則凹坑，通過(guò)電子顯微鏡對(duì)石粉顆粒不規(guī)則的凹坑的邊緣距離進(jìn)行多次測(cè)量并取平均值；將石粉顆粒通過(guò)圓形面積計(jì)算方式對(duì)石粉顆粒2 進(jìn)行面積估算，計(jì)算公式為：s=2πR ；式中：s?凹坑面積；R?不規(guī)則凹坑穿過(guò)中心點(diǎn)的兩個(gè)邊緣點(diǎn)距離的平均值； 將石粉顆粒進(jìn)行劃分，石粉顆粒劃分為若干規(guī)則形狀，對(duì)若干規(guī)則的形狀進(jìn)行面積計(jì)算并相加得出石粉顆粒面積S；將石粉顆粒凹坑面積與石粉顆粒面積進(jìn)行對(duì)比，計(jì)算公式* 為：Q=s/S 100%；式中：Q?石粉顆粒凹坑占石粉顆粒總面積的百分比；s?石粉顆粒凹坑的面積；S?石粉顆?？偯娣e； 規(guī)定對(duì)于同一石粉顆粒內(nèi)凹坑的Q的最大數(shù)值，Q數(shù)值小于20%時(shí)為a區(qū)，大于20%小于 40%為2區(qū)，其余為3區(qū)； C、用0.5倍石粉顆粒凸起占石粉顆粒直徑百分比與0.5倍凹坑占總面積百分比之和，確定石粉顆粒的粗糙程度，計(jì)算