本發(fā)明公開了一種應(yīng)用能量色散X射線熒光分析法測量石英礦中硅元素含量的方法,屬于分析檢測技術(shù)領(lǐng)域,主要解決現(xiàn)有技術(shù)在直接檢測硅元素激發(fā)效率低、結(jié)果精度差及靈敏度不高的問題。該方法首先對市面上石英礦樣品進行預(yù)處理及標準樣品、待測樣品的制備,用能量色散X射線熒光光譜儀對試樣中的鋅元素進行測量,探測到鋅元素的特征峰面積,代入定標曲線,得到試樣中鋅元素的百分含量。再根據(jù)正硅酸鋅中鋅和硅的化學(xué)數(shù)量關(guān)系,計算得到石英礦中硅元素的含量。本發(fā)明通過間接的測量方法實現(xiàn)了對石英礦中硅含量的測量,具有準確、便捷、經(jīng)濟、易操作的特點。
聲明:
“應(yīng)用能量色散X射線熒光分析測定石英礦中硅含量的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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