權(quán)利要求 1.鋁箔表面缺陷識別方法，其特征在于，包括以下步驟： 獲取待檢測鋁箔的表面可見光圖像和樣本鋁箔的樣本表面可見光圖像，對所述表面可見光圖像和所述樣本表面可見光圖像進(jìn)行預(yù)處理，得到目標(biāo)鋁箔圖像和樣本鋁箔圖像，其中，所述預(yù)處理包括：灰度化； 對所述目標(biāo)鋁箔圖像和所述樣本鋁箔圖像進(jìn)行特征對比分析，得到灰度差異度和表面外觀差異度； 根據(jù)所述灰度差異度和所述表面外觀差異度，確定所述待檢測鋁箔對應(yīng)的目標(biāo)缺陷概率； 根據(jù)所述目標(biāo)缺陷概率和預(yù)先設(shè)置的缺陷概率閾值，生成所述待檢測鋁箔對應(yīng)的目標(biāo)缺陷信息； 所述對所述目標(biāo)鋁箔圖像和所述樣本鋁箔圖像進(jìn)行特征對比分析，得到灰度差異度和表面外觀差異度，包括： 將目標(biāo)均值與樣本均值的差值的絕對值，確定為差異系數(shù)，其中，所述目標(biāo)均值是所述目標(biāo)鋁箔圖像中的像素點(diǎn)對應(yīng)的灰度值的均值，樣本均值是所述樣本鋁箔圖像中的像素點(diǎn)對應(yīng)的灰度值的均值； 將所述目標(biāo)鋁箔圖像和所述樣本鋁箔圖像中的各個(gè)像素點(diǎn)對應(yīng)的灰度值，分別組合為目標(biāo)灰度值序列和樣本灰度值序列； 分別對所述目標(biāo)灰度值序列和所述樣本灰度值序列進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化處理，得到目標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)值序列和樣本標(biāo)準(zhǔn)值序列； 確定所述目標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)值序列中的任意一個(gè)目標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)值和所述樣本標(biāo)準(zhǔn)值序列中的任意一個(gè)樣本標(biāo)準(zhǔn)值之間的目標(biāo)距離差異，生成目標(biāo)距離差異矩陣； 對所述目標(biāo)距離差異矩陣進(jìn)行調(diào)整遍歷搜索分析，得到目標(biāo)路徑信息； 根據(jù)所述目標(biāo)路徑信息和所述差異系數(shù)，確定所述灰度差異度； 對所述目標(biāo)鋁箔圖像和所述樣本鋁箔圖像進(jìn)行表面外觀分析，得到所述表面外觀差異度。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鋁箔表面缺陷識別方法，其特征在于，所述對所述目標(biāo)距離差異矩陣進(jìn)行調(diào)整遍歷搜索分析，得到目標(biāo)路徑信息，包括： 對所述目標(biāo)距離差異矩陣中的元素進(jìn)行調(diào)整，得到差異調(diào)整矩陣； 將所述差異調(diào)整矩陣中的左下角元素，確定為搜索初始點(diǎn)； 根據(jù)所述搜索初始點(diǎn)和預(yù)先設(shè)置的多個(gè)目標(biāo)方向，對所述差異調(diào)整矩陣進(jìn)行遍歷搜索，得到路徑信息集合，其中，所述路徑信息集合中的路徑信息包括：多個(gè)差異調(diào)整值和差異調(diào)整數(shù)量，差異調(diào)整值是所述差異調(diào)整矩陣中通過遍歷搜索所形成的路徑上的元素，差異調(diào)整數(shù)量是路徑信息包括的差異調(diào)整值的數(shù)量； 對