本發(fā)明公開(kāi)了一種CSAMT縱向分辨率判定和一維真電阻率精細(xì)反演方法，根據(jù)兩頻點(diǎn)間的線性差值和中間點(diǎn)的誤差分析來(lái)判別表示縱向分辨率的頻點(diǎn)數(shù)上限，將地質(zhì)體的結(jié)構(gòu)、埋深、與圍巖電阻率的差異，電磁噪聲、接收機(jī)靈敏度等因素納入頻點(diǎn)和縱向分辨率的關(guān)系中，合理控制頻點(diǎn)密度；采用頻點(diǎn)數(shù)上限作為一維反演地層層數(shù)上限的反演結(jié)果，形成精細(xì)的電阻率-深度剖面。達(dá)到了精細(xì)勘探的目的。本發(fā)明可推廣應(yīng)用于高密度電阻率、大地電磁和時(shí)間域瞬變電磁等電和電磁法勘探中。