本發(fā)明公開一種水文地質(zhì)測量裝置,屬于水文地質(zhì)測量技術(shù)領(lǐng)域。其包括:探測裝置,所述探測裝置用于伸入水文孔內(nèi)探測水文地質(zhì)數(shù)據(jù);以及控制裝置,所述控制裝置與所述探測裝置電連接,其用于響應(yīng)于所述探測裝置探測的數(shù)據(jù)進行計算,并控制顯示裝置顯示所述水文地質(zhì)數(shù)據(jù);所述探測裝置包括:水位探測部、孔深探測部以及視電阻率探測部;其中,所述水位探測部、孔深探測部以及視電阻率探測部集成于一體。本發(fā)明水文地質(zhì)測量裝置用于測量水位深度、孔深以及地層電阻率等多個水文地質(zhì)參數(shù),提高了工作人員的工作效率。整個測量裝置輕便小巧,傳輸?shù)拈_關(guān)信號對信號線的要求低,節(jié)約制作成本;適用于到幾百米的深度測量。
聲明:
“水文地質(zhì)測量裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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