本實(shí)用新型公開(kāi)一種光學(xué)性能檢測(cè)裝置，所述光學(xué)性能檢測(cè)裝置用于檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)的光學(xué)性能，所述光學(xué)系能檢測(cè)裝置沿光線(xiàn)傳輸方向依次包括激光光源與采集單元，所述光學(xué)系統(tǒng)設(shè)于所述激光光源與所述采集單元之間；所述光學(xué)性能檢測(cè)裝置還包括基座與移動(dòng)臺(tái)，所述移動(dòng)臺(tái)包括第一移動(dòng)臺(tái)，所述激光光源設(shè)于所述第一移動(dòng)臺(tái)；所述第一移動(dòng)臺(tái)與所述基座滑動(dòng)連接并環(huán)繞所述光學(xué)系統(tǒng)轉(zhuǎn)動(dòng)。本實(shí)用新型提供一種光學(xué)性能檢測(cè)裝置，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)虛擬顯示設(shè)備的光學(xué)系統(tǒng)檢測(cè)難度大，檢測(cè)成本高的問(wèn)題。