本發(fā)明涉及一種偏光片光學(xué)性能檢測系統(tǒng),包括旋轉(zhuǎn)臺,所述旋轉(zhuǎn)臺上驅(qū)動設(shè)置有標(biāo)準(zhǔn)偏光片,所述標(biāo)準(zhǔn)偏光片兩側(cè)分別設(shè)置有光源和光學(xué)采樣裝置,所述標(biāo)準(zhǔn)偏光片與所述光學(xué)采樣裝置之間設(shè)置有待測偏光片;所述旋轉(zhuǎn)臺通過驅(qū)動裝置驅(qū)動轉(zhuǎn)動,所述光學(xué)采樣裝置連接有光譜儀;所述偏光片光學(xué)性能檢測系統(tǒng)通過供電電源供電。一種便捷式的偏光片光學(xué)性能檢測系統(tǒng),有效降低了傳統(tǒng)光學(xué)檢測對人工操作的依賴性。通過檢測系統(tǒng)能夠有效調(diào)節(jié)偏光片的狀態(tài),進(jìn)而用于測量偏光片的參數(shù)性能。
聲明:
“偏光片光學(xué)性能檢測系統(tǒng)及其檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)